연구 주제
nm

 OLED 박막 두께 측정 기술 

 OLED 박막 두께 측정 기술 

 TSV 형상 측정 기술 

 지능형 반도체 미세 패턴 측정 기술 

 절전형 웨이퍼 두께 측정 기술 

유연디스플레이 기판 두께 측정 기술

인공지능을 이용한 두께 분석 기술 (AI - Metrology)

mm

멀티스케일 복합 두께 및 적층구조 측정 기술

강화 유리 기판 두께 및 굴절률 측정 기술

300 mm 실리콘 웨이퍼 두께 및 굴절률 분포 측정 기술

m

절대 거리 측정 기술

10.5 세대 대형 디스플레이 기판 두께 측정 기술

연 락 처
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