연구 주제
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 OLED 박막 두께 측정 기술 

 OLED 박막 두께 측정 기술 

 TSV 형상 측정 기술 

 지능형 반도체 미세 패턴 측정 기술 

 절전형 웨이퍼 두께 측정 기술 

유연디스플레이 기판 두께 측정 기술

mm

멀티스케일 복합 두께 및 적층구조 측정 기술

강화 유리 기판 두께 및 굴절률 측정 기술

300 mm 실리콘 웨이퍼 두께 및 굴절률 분포 측정 기술

m

절대 거리 측정 기술

10.5 세대 대형 디스플레이 기판 두께 측정 기술

세계 최고 수준의 차세대 반도체/디스플레이 공정에서의 초정밀 측정 기술
연 락 처
주소: 대전광역시 유성구 가정로 267 한국표준과학연구원 201동 EB14/15호
전화번호: 042-868-5873 
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2020년 6월 업데이트

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